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UVISEL Plus椭偏仪
% – n(632.8nm) ± 0.0001参考招标参数:吉 林 大 学椭偏仪采购项目竞争性磋商文件项目编号:JLU-ZC19091号椭偏仪数量 1台 一、设备基本要求及相关
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UVISEL 2 VUV 真空紫外椭偏仪
专为VUV 测量设计,整个系统处于真空状态,无氧气吸收。具备高度准确性;独一无二的超快测量速度;快速样品室抽真空能力,方便快速更换样品;氮气消耗量少。产品特点50KHz 高频PEM 相位调制技术
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UVISEL Plus In-Situ series 在线椭偏仪
技术参数:·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化Spectral ranges: 190-920 nm - 190-2100 nmLight source: 75W Xe lamp or 150W
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HORIBA UVISEL研究级经典型椭偏仪
全谱范围内测得非常准确的椭偏角(Y, D),从而可以对透明衬底、超薄薄膜和折射率接近的样品进行高精度和高灵敏度的特性分析。相调制技术的原理,使得UVISEL光谱型椭偏仪能够进行先进的参数测量,包括极化
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HORIBA UVISEL 2研究级全自动椭偏仪
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光谱椭偏仪
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光谱椭偏仪
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光谱椭偏仪
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光谱椭偏仪
超高性价比、快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成设计,使用简便,可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。高性价比光学椭偏测量解决方案,紧凑集成化设计,极致用户操作体验,一键快速测量分析,人机交互
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光谱椭偏仪
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